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珠海MCU芯片測試

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簡單說一下芯片CP/FT測試的基本概念理解:chipprobing基本原理是探針加信號激勵給pad,然后測試功能。a.測試對象,wafer芯片,還未封裝的。b.測試目的,篩選,然后決定是否封裝??梢怨?jié)省封裝成本(MPW階段,不需要;fullmask量產(chǎn)階段,才有節(jié)省成本的意義)。c.需要保證:基本功能成功即可,主要是機(jī)臺測試成本高。高速信號不可能,較大支持100~400Mbps;高精度的也不行。總之,通常CP測試,只用于基本的連接測試和低速的數(shù)字電路測試。finaltesta.測試對象,封裝后的芯片;b.測試目的,篩選,然后決定芯片可用做產(chǎn)品賣給客戶。c.需要保證:spec指明的全部功能都要驗(yàn)證到。靜態(tài)測試主要是對芯片的電氣特性進(jìn)行測試,如電壓、電流、功耗等。珠海MCU芯片測試

珠海MCU芯片測試,芯片測試

WAT與FT比較WAT需要標(biāo)注出測試未通過的裸片(die),只需要封裝測試通過的die。FT是測試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項目是重復(fù)的,F(xiàn)T多一些功能性測試。WAT需要探針接觸測試點(diǎn)(pad)。測試的項目大體有:1.開短路測試(ContinuityTest)2.漏電流測試(StressCurrentTest)3.數(shù)字引腳測試(輸入電流電壓、輸出電流電壓)4.交流測試(scantest)功能性測試。所以如果有什么大問題,設(shè)計階段就解決了(或者比較慘的情況下放棄產(chǎn)品,重新設(shè)計)。如果生產(chǎn)過程有大的問題,從圓片測試開始也層層篩選掉了。所以剩下的芯片都是精英中的精英,一眼看過去都是完美的成品。接著主要由探針測試來檢驗(yàn)良率,具體是通過專業(yè)的探針上電,做DFT掃描鏈測試。這些掃描鏈?zhǔn)情_始設(shè)計時就放好的,根據(jù)設(shè)計的配置,測試機(jī)簡單的讀取一下電信號就之后這塊芯片是不是外強(qiáng)中干的次品。其實(shí)好的、成熟的產(chǎn)品,到這一步良品率已經(jīng)很高了(98%左右),所以更多時候抽檢一下看看這個批次沒出大簍子就行了。廣西附近芯片測試哪里好OPS與800+客戶達(dá)成長期合作。

珠海MCU芯片測試,芯片測試

IC封裝主要是為了實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)部和外部電路之間的連接和保護(hù)作用。而集成電路測試就是運(yùn)用各種測試方法,檢測芯片是否存在設(shè)計缺陷或者制造過程導(dǎo)致的物理缺陷。為了確保芯片能夠正常使用,在交付給整機(jī)廠商前必須要經(jīng)過的Z后兩道過程:封裝與測試。封測是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈里必不可少的環(huán)節(jié),其中封和測是兩個概念。從全球封測行業(yè)市場規(guī)模來看,其中封裝和測試占比分別為80%和20%,多年來占比保持穩(wěn)定。一、發(fā)展歷程封裝大致經(jīng)過了如下發(fā)展歷程:1、結(jié)構(gòu)方面:TO->DIP->PLCC->QFP->BGA->CSP->WLP和SiP等2、材料方面:金屬、陶瓷->陶瓷、塑料->塑料;3、引腳形狀:長引線直插->短引線或無引線貼裝->球狀凸點(diǎn)4、裝配方式:通孔插裝->表面組裝->直接安裝5、封裝不斷改進(jìn)的驅(qū)動力:尺寸變小、芯片種類增加,I/O增加6、難點(diǎn):工藝越來越復(fù)雜、縮小體積的同時需要兼顧散熱、導(dǎo)電性能等

MCU(MicroControlUnit)芯片稱為微控制單元,又稱作單片機(jī),是許多控制電路中的重要組成部分.MCU芯片的設(shè)計和制造的發(fā)展要依賴于芯片的測試,隨著芯片可測試管腳數(shù)量的增多,芯片的功能也隨之增多,芯片測試的復(fù)雜度和測試時間也隨之增加.芯片測試系統(tǒng)從1965年至今已經(jīng)歷了四個階段,目前的芯片測試系統(tǒng)無論在測試速度還是在可測試管腳數(shù)量方面都比以前有了很大提升,但是任何一個芯片測試系統(tǒng)也無法完全滿足由于不斷更新的芯片而引起的對測試任務(wù)不斷更新的要求.設(shè)計安全性高,測試效率高,系統(tǒng)升級成本低的芯片測試系統(tǒng)是發(fā)展的方向。一顆芯片要做到終端產(chǎn)品上,一般要經(jīng)過芯片設(shè)計、晶圓制造、晶圓測試、封裝、成品測試、板級封裝等環(huán)節(jié)。

珠海MCU芯片測試,芯片測試

怎么樣進(jìn)行芯片測試?這需要專業(yè)的ATE也即automatictestequipment.以finaltest為例,先根據(jù)芯片的類型,比如automotive,MixedSignal,memory等不同類型,選擇適合的ATE機(jī)臺.在此基礎(chǔ)上,根據(jù)芯片的測試需求,(可能有一個叫testspecification的文檔,或者干脆讓測試工程師根據(jù)datasheet來設(shè)計testspec),做一個完整的testplan.在此基礎(chǔ)上,設(shè)計一個外圍電路loadboard,一般我們稱之為DIBorPIBorHIB,以連接ATE機(jī)臺的instrument和芯片本身.同時,需要進(jìn)行test程序開發(fā),根據(jù)每一個測試項,進(jìn)行編程,操控instrument連接到芯片的引腳,給予特定的激勵條件,然后去捕捉芯片引腳的反應(yīng),例如給一個電信號,可以是特定的電流,電壓,或者是一個電壓波形,然后捕捉其反應(yīng).根據(jù)結(jié)果,判定這一個測試項是pass或者fail.在一系列的測試項結(jié)束以后,芯片是好還是不好,就有結(jié)果了.好的芯片會放到特定的地方,不好的根據(jù)fail的測試類型分別放到不同的地方。在芯片出現(xiàn)故障時,需要對芯片進(jìn)行測試,以確定故障原因。深圳什么是芯片測試過程

芯片測試還包括溫度測試、封裝測試、可靠性測試等。珠海MCU芯片測試

隨著芯片制造技術(shù)的進(jìn)步,自動測試設(shè)備(ATE)應(yīng)運(yùn)而生。ATE通過自動化測試過程,提高了測試的效率和準(zhǔn)確性。它們可以執(zhí)行各種測試,包括功能測試、時序測試和功耗測試,以確保芯片的各個方面都符合規(guī)格。為了避免對芯片性能的干擾,非侵入性測試技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。這種技術(shù)允許在不破壞芯片結(jié)構(gòu)的情況下進(jìn)行測試,包括觀察和測量信號、功耗和時序等。非侵入性測試技術(shù)的使用提高了測試的靈活性和可行性。嵌入式自測技術(shù)是將測試電路嵌入到芯片本身的一種方法。這些嵌入的測試電路能夠在芯片工作時自動進(jìn)行測試,從而實(shí)現(xiàn)實(shí)時監(jiān)測和反饋。這種技術(shù)提高了對芯片性能的實(shí)時了解,有助于提前發(fā)現(xiàn)和解決問題。珠海MCU芯片測試

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